质量体系
quality system
常规静态参数测试
设备名称 设备图 可承担实验项目 依据标准
JUNO测试系统 半导体器件常规静态参数参数 /
DBC-091晶闸管关断时间测试仪 单、双向可控硅的关断时间tq测试 GB/T 15291-2015 9.1.10
DBC-105浪涌及峰值电压测试台 单、双向可控硅的浪涌ITSM测试 GB/T 15291-2015 9.3.3
DBC-082通态电流临界上升率试验台 单、双向可控硅的dI/dt测试 GB/T 15291-2015 9.3.5
DATA-206型晶闸管dv/dt测试仪 单、双向可控硅的dV/dt测试 GB/T 15291-2015 9.1.11
可控硅门极触发特性测试仪 单、双向可控硅的IGT、VGT测试 GB/T 15291-2015 9.1.7
QT2晶体管半导体管特性图示仪 静态电参数 /
EFT电快速脉冲群测试 EFT电快速脉冲群测试 JESD51-3,JESD51-4