| 设备名称 | 设备图 | 可承担实验项目 | 依据标准 |
| JUNO测试系统 |  |
半导体器件常规静态参数参数 | / |
| DBC-091晶闸管关断时间测试仪 |  |
单、双向可控硅的关断时间tq测试 | GB/T 15291-2015 9.1.10 |
| DBC-105浪涌及峰值电压测试台 |  |
单、双向可控硅的浪涌ITSM测试 | GB/T 15291-2015 9.3.3 |
| DBC-082通态电流临界上升率试验台 |  |
单、双向可控硅的dI/dt测试 | GB/T 15291-2015 9.3.5 |
| DATA-206型晶闸管dv/dt测试仪 |  |
单、双向可控硅的dV/dt测试 | GB/T 15291-2015 9.1.11 |
| 可控硅门极触发特性测试仪 |  |
单、双向可控硅的IGT、VGT测试 | GB/T 15291-2015 9.1.7 |
| QT2晶体管半导体管特性图示仪 |  |
静态电参数 | / |
| EFT电快速脉冲群测试 |  |
EFT电快速脉冲群测试 | JESD51-3，JESD51-4 |
